一种防磁性能测试装置及其加磁结构

公司信息商标信息专利信息

授权公布号：CN107515525B

一种防磁性能测试装置及其加磁结构

有效

申请

2017-09-12

申请公布

2017-12-26

授权

2023-04-25

预估到期

2037-09-12

申请号	CN201710825521.4
申请日	2017-09-12
申请公布号	CN107515525A
申请公布日	2017-12-26
授权公布号	CN107515525B
授权公告日	2023-04-25
分类号	G04D7/00
分类	测时学;
申请人名称	飞亚达精密科技股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区高新南一道飞亚达科技大厦

专利法律状态

2023-04-25 授权

状态信息

授权

2020-06-02 著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G04D7/00；专利申请号:2017108255214；变更事项:申请人；变更前:飞亚达(集团)股份有限公司；变更后:飞亚达精密科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:518034 广东省深圳市南山区高新南一道飞亚达科技大厦；变更后:518000 广东省深圳市南山区高新南一道飞亚达科技大厦；变更事项:申请人；变更前:深圳市飞亚达精密科技有限公司；变更后:深圳市飞亚达精密科技有限公司

2020-01-24 著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G04D7/00；专利申请号:2017108255214；变更事项:申请人；变更前:飞亚达(集团)股份有限公司；变更后:飞亚达(集团)股份有限公司；变更事项:地址；变更前:518034 广东省深圳市南山区高新南一道飞亚达科技大厦；变更后:518034 广东省深圳市南山区高新南一道飞亚达科技大厦；变更事项:申请人；变更前:深圳市飞亚达精密计时制造有限公司；变更后:深圳市飞亚达精密科技有限公司

2018-01-19 实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G04D7/00；专利申请号:2017108255214；申请日:20170912

2017-12-26 发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明提出了一种防磁性能测试装置及其加磁结构；所述加磁结构包括环形轭铁（1）、分别设置在轭铁（1）相对的两内侧面上的两极柱（2）、绕设在极柱（2）上的线圈（3）以及用于给线圈（3）通电以产生磁场的电源；两极柱（2）相对设置，并间隔出用于设置样品的间隙；轭铁（1）的径向截面面积与极柱（2）的径向截面面积的比例为（1.2‑1.4）：1。本发明的防磁性能测试装置及其加磁结构设计巧妙，实用性强。