本实用新型公开了测试座，其中，测试座包括：基板；插座，插座固定在基板上，插座上形成有测试槽，测试槽的槽底形成有限位件；卡勾组件，卡勾组件与插座可旋转设置，以旋转至测试槽内，固定芯片；其中，当芯片放置在测试槽内时，芯片的一侧与限位件贴合设置，芯片的另一侧与卡勾组件贴合设置。通过上述结构，本实用新型的测试座能够简化测试不同公差的芯片时的操作步骤，提高测试操作的便利度，进而提高测试效率。