本发明提供一种芯片测试电路，包括微处理器、测试子电路、制冷驱动子电路、散热驱动子电路、制热驱动子电路和温度检测子电路，其中所述测试子电路、所述制冷驱动子电路、所述散热驱动子电路、所述制热驱动子电路和所述温度检测子电路分别与所述微处理器连接。本发明还提供相应的芯片测试设备。本发明实现对待测芯片进行单独制冷，避免外围器件在低温环境下损坏而导致测试不良的问题，提高测试效率，以及有效防止因水或冰引起的芯片损坏问题。