授权公布号:CN108682442B
一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统
有效
申请
2018-05-23
申请公布
2018-10-19
授权
2022-04-05
预估到期
2038-05-23
| 申请号 | CN201810503034.0 |
| 申请日 | 2018-05-23 |
| 申请公布号 | CN108682442A |
| 申请公布日 | 2018-10-19 |
| 授权公布号 | CN108682442B |
| 授权公告日 | 2022-04-05 |
| 分类号 | G11C29/56 |
| 分类 | 信息存储; |
| 申请人名称 | 置富科技(深圳)股份有限公司 |
| 申请人地址 | 广东省深圳市龙岗区坂田街道吉华路龙璧工业城13#2层 |
专利法律状态
2022-04-05
授权
状态信息
授权
2021-08-06
专利申请权、专利权的转移
状态信息
专利申请权的转移;IPC(主分类):G11C 29/56;专利申请号:2018105030340;登记生效日:20210723;变更事项:申请人;变更前权利人:武汉忆数存储技术有限公司;变更后权利人:置富科技(深圳)股份有限公司;变更事项:地址;变更前权利人:430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园蓝域·商界2号楼3层304-5;变更后权利人:518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道吉华路龙璧工业城13#2层;变更事项:申请人;变更前权利人:华中科技大学;变更后权利人:
2018-11-13
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G11C 29/56;专利申请号:2018105030340;申请日:20180523
2018-10-19
发明专利申请公布
状态信息
公布
摘要
本发明涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统,该方法包括将测试芯片与测试系统连接,以块为单位选择该测试芯片所要测试的块,并根据闪存芯片的封装不同,选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息,并将测试数据实时保存;利用寿命预测算法,根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命;对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据;根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据,单独或者组合判断筛选闪存芯片,对闪存芯片进行分类。通过本发明,针对不同类型的闪存芯片,采用相应测试图形(pattern)进行测试,实现对不同封装、不同型号的闪存芯片的测试;且通过对闪存芯片存储块进行分级,根据存储块的分级实现对闪存芯片的分级,获得更准确,更贴合实际数据的闪存芯片分类方法。


