本发明涉及芯片检测技术领域，尤其是指一种芯片检测设备及检测方法，包括支撑架，所述支撑架内部设置有一对传送板，分别为传送板一、传送板二，一对所述传送板中部均安装有嵌合架，所述支撑架的一侧安装有检测机，所述支撑架内部安装有运输组件，所述运输组件用以上下往复传送传送板；所述运输组件包括多对传输辊，多对所述传输辊外部均安装有传输皮带，所述运输组件还包括固接在传输皮带上的两对滑动块，所述传送板一外部固接有一对滑动块，另一对所述滑动块之间固接有升降机构；本发明通过运输组件，实现了传送板一与传送板二在竖直空间中的交替作业，从而达到了节省占地空间的效果。