本实用新型涉及一种非标芯片自动化测试装置，第一安装座上安装有第一步进电机，第一步进电机上安装有第一传动齿轮，第一安装座上还安装有第二安装座，第二安装座上安装有第一传动带，第一传动带上安装有第一芯片拾取模块，主架上还安装有第二步进电机，第二步进电机的一侧设有第二传动齿轮，第四安装座上安装有第二传动带，第二传动带上安装有第二芯片拾取模块，主架上设有多芯片测试模块，主架上设有丝杆，第五安装座上安装有第三步进电机，丝杆上安装有第二托盘。本实用新型实现了多个芯片的检测或不同芯片的检测，有效提高了芯片检测的效率。