本实用新型公开了一种用于量子芯片通断与约瑟夫森结常温电阻的测试电路，属于器件检测技术领域，要解决的技术问题为如何对制备完成的量子计算芯片的优劣进行初步筛查，对制备的约瑟夫森结性能进行估算。包括：驱动电源，所述驱动电源用于提供直流驱动电源；限流电阻，所述限流电阻的第一端与驱动电流的正极电连接；测量电阻，所述测量电阻的第一端与所述限流电阻的第二端电连接，所述测量电阻的第二端与所述驱动电流的负极电连接，所述测量电阻用于通过与待测样品并联。