本实用新型公开一种芯片测试筛选设备，用于内存芯片，其中，芯片测试筛选设备包括机架、转运机构、至少三组承载机构、视觉检测装置以及内存芯片测试装置。机架形成有沿第一方向间隔设置的上料工位、视觉检测工位、测试工位、良品下料工位及不良品下料工位；视觉检测装置和/或内存芯片测试装置对芯片进行测试后由设于机架的转运机构将芯片传递至良品下料工位或不良品下料工位。本实用新型技术方案涉及芯片制造技术领域，本申请利用转运机构将待测试芯片在视觉检测装置与内存芯片测试装置之间运转，并在检测后直接分拣至不同工位下料，减少人工参与，降低人力成本，提高生产效率。