本发明涉及芯片测试的技术领域，公开了一种用于芯片测试的设备，其结构包括检测台，检测台的顶部设置有固定架，固定架的顶部设置有步进电机，固定架上设置有检测机构，检测机构包括设置于固定架正面的推进检测部件，设置于推进检测部件上的伸缩保护部件，以及设置于推进检测部件一侧的辅助吸尘部件，推进检测部件上设置有芯片托盘。通过启动步进电机，使得检测器带动延长板同步向下移动，使得转动件的底端插入最近的一个通槽内，转动件的底端沿着斜块的外壁转动，将芯片托盘整体移动一个通槽的距离，便于自动化的将芯片进行上料检测，不需要操作人员逐个将芯片放置到测试区域，提高了设备测试的速度和总生产能力。