授权公布号:CN113742198B
测试方法、装置、电子设备及存储介质
有效
申请
2020-05-28
申请公布
2021-12-03
授权
2023-12-05
预估到期
2040-05-28
| 申请号 | CN202010466031.1 |
| 申请日 | 2020-05-28 |
| 申请公布号 | CN113742198A |
| 申请公布日 | 2021-12-03 |
| 授权公布号 | CN113742198B |
| 授权公告日 | 2023-12-05 |
| 分类号 | G06F11/36 |
| 分类 | 计算;推算;计数; |
| 申请人名称 | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 申请人地址 | 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼 |
专利法律状态
2023-12-05
授权
状态信息
授权
2021-12-21
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G06F11/36;申请日:20200528
2021-12-03
公布
状态信息
公布
摘要
本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:构建测试指令集;其中,测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令,测试指令集中任意两个测试指令均不相同;多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现;根据多种测试的测试类型,确定测试的配置参数;根据确定的测试的配置参数,由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令,以对测试对象进行多种测试,获得测试结果;解决了现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题,提高了测试结果的精确度,进而提高了故障修复效率。


