电离层延迟获取方法和装置

授权公布号：CN103760573B

电离层延迟获取方法和装置

有效

申请

2014-01-21

申请公布

2014-04-30

授权

2016-07-06

预估到期

2034-01-21

申请号	CN201410028506.3
申请日	2014-01-21
申请公布号	CN103760573A
申请公布日	2014-04-30
授权公布号	CN103760573B
授权公告日	2016-07-06
分类号	G01S19/07
分类	测量；测试;
申请人名称	北京北斗星通导航技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区丰贤东路7号北斗星通大厦南楼二层

专利法律状态

2016-07-06 授权

状态信息

授权

2014-06-04 实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01S19/07；申请日:20140121

2014-04-30 公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种电离层延迟获取方法和装置。涉及导航领域；解决了接收机的定位精度较差的问题。该方法包括：获取穿刺点的位置；获取所述穿刺点位置对应的格网电离层参数；根据所述穿刺点的位置和对应的格网电离层参数，确定所述穿刺点的垂直电离层延迟。本发明提供的技术方案适用于依据卫星信号，实现计算基于格网的电离层延迟。