芯片单独寿命预测模块_专利查询-品牌网

授权公布号：CN209028177U

芯片单独寿命预测模块

有效

申请

2018-10-30

申请公布

1970-01-01

授权

2019-06-25

预估到期

2028-10-30

申请号	CN201821778643.9
申请日	2018-10-30
授权公布号	CN209028177U
授权公告日	2019-06-25
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	富士电机（中国）有限公司
申请人地址	上海市普陀区凯旋北路1188号环球港B座26楼

专利法律状态

2019-06-25 授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型提供一种芯片单独寿命预测模块，能够单独地预测芯片的寿命以决定是否更换，其包括：芯片(10)，将该芯片的一部分区域作为检测区域(11)；阻抗检测单元(21)，通过绑定线(60)连接至检测区域(11)，检测出检测区域(11)的阻抗作为芯片(10)的阻抗；以及判断单元(22)，根据阻抗检测单元(21)检测到的芯片(10)的阻抗，来判断芯片(10)的劣化是否超过预先设定的阈值，从而决定是否需要更换。