授权公布号:CN116152283B
一种多台线激光传感器分组曝光的处理方法
有效
申请
2023-04-18
申请公布
2023-05-23
授权
2023-07-28
预估到期
2043-04-18
| 申请号 | CN202310413958.2 |
| 申请日 | 2023-04-18 |
| 申请公布号 | CN116152283A |
| 申请公布日 | 2023-05-23 |
| 授权公布号 | CN116152283B |
| 授权公告日 | 2023-07-28 |
| 分类号 | G06T7/13;G06T3/40;G01B11/24 |
| 分类 | 计算;推算;计数; |
| 申请人名称 | 天津宜科自动化股份有限公司 |
| 申请人地址 | 天津市西青区西青经济技术开发区赛达四支路12号 |
专利法律状态
2023-09-01
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
状态信息
专利权人的姓名或者名称、地址的变更;IPC(主分类):G06T7/13;专利号:ZL2023104139582;变更事项:专利权人;变更前:天津宜科自动化股份有限公司;变更后:天津宜科自动化股份有限公司;变更事项:地址;变更前:300385 天津市西青区经济开发区赛达四支路12号;变更后:300385 天津市西青区西青经济技术开发区赛达四支路12号
2023-07-28
授权
状态信息
授权
2023-06-09
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/13;申请日:20230418
2023-05-23
公布
状态信息
公布
摘要
本发明涉及轮廓的计量技术领域,特别是涉及一种多台线激光传感器分组曝光的处理方法。所述方法包括:S100,获取A;S200,获取Bi;S300,获取Exi;S400,如果eni,x与H1中线激光传感器均无重合覆盖范围,则将其追加到H1;S500,获取Di和Ui;S600,如果uyi与J1中线激光传感器均无重合覆盖范围,则将其追加到J1;否则,将其追加到L1;S700,如果(Di‑dri)中某线激光传感器与J2中线激光传感器均无重合覆盖范围,则将其追加到J2;否则,将其追加到F;S800,如果(L1‑lj)和F均为空,则判定获取分组线激光传感器集合的过程结束。本发明提高了光带的粗细一致性。


