本实用新型公开了一种巴氏合金抗蠕变测试装置，包括载荷件、基板、测试样件和压载件，所述载荷件与基板通过若干导柱连接且载荷件可沿导柱滑动，所述测试样件固定在基板上，所述压载件包括平头压针，所述压载件固定在载荷件上且压针朝向测试样件。通过本实用新型装置能够测试不同成分巴氏合金层的蠕变压迹，并测量压迹凹坑深度，分析压迹凹坑深度与时间和温度的关系，进而获得不同成分巴氏合金层抗蠕变的作用。