授权公布号:CN111842184B
不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质
有效
申请
2019-04-28
申请公布
2020-10-30
授权
2023-06-20
预估到期
2039-04-28
| 申请号 | CN201910351854.7 |
| 申请日 | 2019-04-28 |
| 申请公布号 | CN111842184A |
| 申请公布日 | 2020-10-30 |
| 授权公布号 | CN111842184B |
| 授权公告日 | 2023-06-20 |
| 分类号 | B07C5/02;B07C5/36;G06Q10/0639;G06Q50/04 |
| 分类 | 将固体从固体中分离;分选; |
| 申请人名称 | 深圳市聚飞光电股份有限公司 |
| 申请人地址 | 广东省深圳市龙岗区平湖街道鹅公岭社区鹅岭工业区4号 |
专利法律状态
2023-06-20
授权
状态信息
授权
2021-10-22
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):B07C5/02;申请日:20190428
2020-10-30
公布
状态信息
公布
摘要
本发明实施例提供一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质,通过单号扫描仪获取LED产品的流程单号,接收输入的至少一个不良项目信息,并以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况,从而使得最终的不良统计结果能够以流程单号为单位获取,使得对LED不良情况的统计可以追溯至对应的LED产品,实现LED产品中不良情况的统计分析,统计结果分类更加细致;另外,对不良LED的统计计数技术不再依赖于人工的称重计数,提升了统计结果的准确性。本发明实施例还提供不良LED处理系统、设备及计算机可读存储介质,能够为不良LED出现原因的分析以及LED产品生产工艺的改进提供更可靠的数据依据,提升生产效率。


