本实用新型提供一种光芯片波导模式的测试装置，包括光源、保偏光纤、待测光芯片、放大透镜组件和平面探测器，保偏光纤与光源连接，保偏光纤的光纤出射端与待测光芯片的波导入射端分离并向波导入射端输出高斯光束，待测光芯片的波导出射端的出射光经过放大透镜组件的成像放大后入射至平面探测器。当激发光波导最高阶模需要的光入射角度在光纤出射端的高斯光束的远场发散角内，并在平行于波导入射端所在平面横向移动光纤出射端，继而可以达到逐次激发波导的各阶模的目的，随后再用放大透镜组件和平面探测器搭建成像系统，通过获取模斑成像，即可判断波导的模式，继而简易高效测出光芯片的波导模式。