本实用新型公开了一种具有稳固限位的集成电路检测设备，涉及集成电路检测装置领域，针对现有的集成电路检测设备不具有限位功能的问题，现提出如下方案，其包括框架，所述框架一侧固定安装有控制器，所述框架内设有第一传输带和第二传输带，且所述框架内固定安装有检测台，所述检测台位于第一传输带和第二传输带之间，且所述检测台顶端开设有放置槽，所述放置槽内设有限位结构，且所述框架顶端固定安装有支撑板，且所述支撑板呈L型，所述支撑板水平段顶端设有检测装置。本实用新型结构新颖，且该设备通过限位结构的设置，达到固定集成电路的效果，有助于避免集成电路在检测过程中晃动，提高了检测结果的精准度且提高了工作效率。