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公司信息商标信息专利信息
授权公布号:CN113702854B
容量老化计算方法、系统、电池储能设备及存储介质
有效
申请
2021-08-23
申请公布
2021-11-26
授权
2024-01-02
预估到期
2041-08-23
申请号 CN202110965861.3
申请日 2021-08-23
申请公布号 CN113702854A
申请公布日 2021-11-26
授权公布号 CN113702854B
授权公告日 2024-01-02
分类号 G01R31/392;G01R31/3835
分类 测量;测试;
申请人名称 欣旺达电子股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区颐和路2号综合楼1楼、2楼A-B区、2楼D区-9楼

专利法律状态

2024-01-02 授权
状态信息
授权
2021-12-14 实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G01R31/392;申请日:20210823
2021-11-26 公布
状态信息
公布

摘要

本申请公开了一种容量老化计算方法、系统、电池储能设备及存储介质。其中,容量老化计算方法用于计算电池的目标容量老化,所述容量老化计算方法包括:获取所述电池的循环次数,根据所述循环次数得到第一候选容量老化;根据所述第一候选容量老化和修正值得到所述目标容量老化;其中,所述修正值由以下步骤生成:获取所述电池的状态参数,根据所述状态参数生成第二候选容量老化;根据所述第一候选容量老化和第二候选容量老化得到所述修正值。本申请实施例能够在保证容量老化计算精度的前提下,实现电池容量老化的实时在线计算。