本发明公开了模拟长期运行电缆介电强度衰减及耐压的测试方法，整个试验分两个阶段，第一阶段：模拟高分子材料在长期运行后与前期运行介电强度的变化率，达到要求后进行第二阶段试验；第二阶段：模拟线路长期运行后在额定温度下工作及前期运行在额定温度下工作的耐压试验；第一阶段破坏性试验：验证老化后与老化前介电强度的变化率，其目的是有效的验证材料在介电强度方面的稳定性，保证后续终端使用中性能与前期差别过大；在第一阶段的基础上，第二阶段耐压在额定温度及极小弯曲半径下进行，验证线缆在额定最高温度下时是否能长期承受额定电压的情况。