一种评估PVA光学薄膜质量的方法

授权公布号：CN112858084B

一种评估PVA光学薄膜质量的方法

有效

申请

2021-01-18

申请公布

2021-05-28

授权

2022-08-02

预估到期

2041-01-18

申请号	CN202110063286.8
申请日	2021-01-18
申请公布号	CN112858084A
申请公布日	2021-05-28
授权公布号	CN112858084B
授权公告日	2022-08-02
分类号	G01N5/04
分类	测量；测试;
申请人名称	安徽皖维高新材料股份有限公司
申请人地址	安徽省合肥市巢湖市巢维路56号

专利法律状态

2023-12-08 专利权质押合同登记的生效、变更及注销

状态信息

专利权质押合同登记的生效；IPC(主分类):G01N5/04；专利号:ZL2021100632868；登记号:Y2023980066338；登记生效日:20231120；出质人:安徽皖维高新材料股份有限公司；质权人:中国工商银行股份有限公司巢湖支行；发明名称:一种评估PVA光学薄膜质量的方法；申请日:20210118；授权公告日:20220802

2022-08-02 授权

状态信息

授权

2021-06-15 实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N5/04；申请日:20210118

2021-05-28 公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种评估PVA光学薄膜质量的方法，是将PVA光学薄膜进行不同时间的膨润，通过增塑剂在PVA光学薄膜中的溶出速率与膨润时间的关系，判断增塑剂与膜中PVA的结合状况，进而评估PVA光学薄膜质量。本发明的方法操作简单、结果可靠。