本发明涉及一种断线检测系统，涉及断线检测领域，对于光耦驱动电流有要求（有效值低于100μA）的应用场合，本发明增设的抗干扰及阻抗模块利用射极跟随器的电流放大和射极电压跟随作用，解决了CTR过低以及CTR参数离散性导致光耦输出低电平电压值过高无法识别低电平的问题以及光耦输出侧上拉电阻与MCU的IO口电阻分压作用导致的输出电压高电平过低的问题，提升了电路的抗干扰能力和可靠性。