授权公布号:CN106500659B
水平校准方法、水平校准装置及测距仪
有效
申请
2016-12-15
申请公布
2017-03-15
授权
2023-05-02
预估到期
2036-12-15
| 申请号 | CN201611162928.5 |
| 申请日 | 2016-12-15 |
| 申请公布号 | CN106500659A |
| 申请公布日 | 2017-03-15 |
| 授权公布号 | CN106500659B |
| 授权公告日 | 2023-05-02 |
| 分类号 | G01C3/00;G01C25/00 |
| 分类 | 测量;测试; |
| 申请人名称 | 深圳市迈测科技股份有限公司 |
| 申请人地址 | 广东省深圳市南山区桃源街道留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区9栋6楼 |
专利法律状态
2023-05-02
授权
状态信息
授权
2017-03-15
公布
状态信息
公布
摘要
本发明公开了一种水平校准方法,用于测距仪,包括:位置获取步骤,获取所述测距仪的位置信息,所述位置信息包括所述测距仪与水平面的夹角;显示步骤,根据所述测距仪与所述水平面的夹角显示第一显示界面或第二显示界面。本发明还提供一种水平校准装置及测距仪。


