授权公布号:CN111856150B
一种准光腔介电常数测试随频率变化误差修正方法
有效
申请
2020-08-18
申请公布
2020-10-30
授权
2024-02-02
预估到期
2040-08-18
| 申请号 | CN202010833010.9 |
| 申请日 | 2020-08-18 |
| 申请公布号 | CN111856150A |
| 申请公布日 | 2020-10-30 |
| 授权公布号 | CN111856150B |
| 授权公告日 | 2024-02-02 |
| 分类号 | G01R27/26 |
| 分类 | 测量;测试; |
| 申请人名称 | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 申请人地址 | 山东省青岛市黄岛区香江路98号 |
专利法律状态
2024-02-02
授权
状态信息
授权
2020-10-30
公布
状态信息
公布
摘要
本发明公开了一种准光腔介电常数测试随频率变化误差修正方法,属于检测领域,可以解决准光腔介电常数测试随频率变化误差的问题,包括以下步骤:对准光腔中高斯波束相位分布进行分析;根据待测样品上表面,即空气与介质区域分界面处电磁场的边界条件关系,获得样品上表面实际的相位分布以及电场与磁场表达式;考虑准光腔内电场纵向场分量,同时将准光腔内电场横向场分量和纵向场分量列入计算步骤中;带入公式进行计算。


