授权公布号:CN113777412B
一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法
有效
申请
2021-08-11
申请公布
2021-12-10
授权
2024-03-19
预估到期
2041-08-11
| 申请号 | CN202110916124.4 |
| 申请日 | 2021-08-11 |
| 申请公布号 | CN113777412A |
| 申请公布日 | 2021-12-10 |
| 授权公布号 | CN113777412B |
| 授权公告日 | 2024-03-19 |
| 分类号 | G01R29/10 |
| 分类 | 测量;测试; |
| 申请人名称 | 中电科思仪科技股份有限公司 |
| 申请人地址 | 山东省青岛市黄岛区香江路98号 |
专利法律状态
2024-03-19
授权
状态信息
授权
2021-12-28
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G01R29/10;申请日:20210811
2021-12-10
公布
状态信息
公布
摘要
本发明公开了一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法,属于天线测试技术领域,根据零深附近方向图呈现近似对称分布的特点,将广义互相关时延估计的方法应用到零深估计,提高零深位置测试精度;具体包括选取有效数据段,对数据段进行判断并处理,选取零深估计粗值点,利用广义互相关时延估计计算互功率谱,补零操作,以及进行傅里叶反变换等计算零深的位置。本发明采用补零的方法,提高零深位置的角度分辨率;通过该计算方法对线性值取倒数,提高与零深距离近的值在时延估计中所占的比重,进一步提高时延估计精度。


