一种块模式编码方法及装置

公司信息商标信息专利信息

授权公布号：CN101742301B

一种块模式编码方法及装置

有效

申请

2008-11-24

申请公布

2010-06-16

授权

2017-04-19

预估到期

2028-11-24

申请号	CN200810226799.0
申请日	2008-11-24
申请公布号	CN101742301A
申请公布日	2010-06-16
授权公布号	CN101742301B
授权公告日	2017-04-19
分类号	H04N19/176;H04N19/186
分类	电通信技术;
申请人名称	北京中星微电子有限公司
申请人地址	北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层

专利法律状态

2018-04-10 专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):H04N19/176；变更事项:专利权人；变更前:中星技术有限公司；变更后:中星技术股份有限公司；变更事项:地址；变更前:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层；变更后:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层

2018-01-09 专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):H04N19/176；登记生效日:20171221；变更事项:专利权人；变更前:北京中星微电子有限公司；变更后:中星技术有限公司；变更事项:地址；变更前:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层；变更后:100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦16层

2017-04-19 授权

状态信息

授权

2011-10-05 实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):H04N 7/26申请日:20081124

2010-06-16 公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种块模式编码方法，用于实现对4:1:0采样模式的块模式编码。所述方法包括：采用4:1:0采样模式对图像分块进行采样；根据规定的亮度预测模式和色度预测模式，对采样的图像分块进行亮度预测和色度预测，并得到预测残差；对预测残差进行变换和量化，并得到残差系数；根据得到的残差系数，产生5位块模式CBP码样本；根据5位CBP码样本的取值的出现次数，对所有取值进行排序；对排序后的取值标记码号，并且，对出现次数越多的CBP码的取值标记越小的码号。本发明还公开了采用所述块模式编码的图像编码和解码方法及与方法对应的装置。