本发明提出一种漏点探漏效果的评估方法，包括收集暗漏点信息，并对所述收集的暗漏点信息进行预处理；确定漏点生长函数；根据漏点生长函数确定暗漏点和背景漏点；计算不同探漏周期内的暗漏点和背景漏点数；计算探漏系数，探漏系数＝暗漏漏点数/(暗漏漏点数+背景漏点数)，以及计算历史探漏周期的平均探漏系数P；评估不同探漏周期的探漏效果：若本次探漏周期内探漏系数高于P，说明探漏工作效果好；若探漏系数低于P，说明探漏工作效果差。本发明的方法还包括计算不同区域内的漏点分布情况，评估不同区域的探漏效果，以及预测下一个探漏周期可能存在的漏点数，制定探漏工作计划。