本实用新型涉及一种电子设备出厂检测装置，其包括高低温检测设备，高低温检测设备包括外壳、检测空间和温度调控装置，温度调控装置位于外壳内部下端，检测空间位于外壳内部上端，温度调控装置用于控制检测空间内的温度；振动机构，振动机构设置在检测空间内，振动机构用于对电子设备进行振动；夹持机构，夹持机构设置在检测空间内，夹持机构用于夹紧或者松开电子设备的两侧；上下移动组件，上下移动组件设置在外壳内，上下移动组件用于带动夹持机构沿着竖直方向进行上下移动。本申请具有能够测试电子设备在不同温度环境下的跌落碰撞、振动性能、淋雨性能的交叉测试，提高测试范围和适用性的效果。