Logo缺陷检测方法及装置_专利查询-品牌网

授权公布号：CN110910339B

Logo缺陷检测方法及装置

有效

申请

2019-07-10

申请公布

2020-03-24

授权

2022-11-22

预估到期

2039-07-10

申请号	CN201910619417.9
申请日	2019-07-10
申请公布号	CN110910339A
申请公布日	2020-03-24
授权公布号	CN110910339B
授权公告日	2022-11-22
分类号	G06T7/00;G06T7/11;G06T5/50;G06V10/77;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	研祥智能科技股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦1701

专利法律状态

2023-07-21 专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G06T7/00；专利号:ZL2019106194179；登记生效日:20230707；变更事项:专利权人；变更前权利人:研祥智能科技股份有限公司；变更后权利人:深圳市研祥智慧科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:518107 广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号；变更后权利人:518057 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区高新中四道31号研祥科技大厦1701

2022-11-22 授权

状态信息

授权

2020-04-17 实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06T7/00；申请日:20190710

2020-03-24 公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种Logo缺陷检测方法及装置。所述方法包括：构建VGG网络模型，其中，所述VGG网络模型中的两个最大池化层后面具有PCA层；对待检测的Logo图片进行分割，并记好分割后的每张图片在原图中的相对位置；对所述VGG网络模型进行训练，直至达到预设的最大迭代数，结束训练输出缺陷分类模型；将分割后的图片传入所述缺陷分类模型，对所述Logo图片的缺陷进行判定。本发明能够提升Logo缺陷的检测速度。