授权公布号:CN114421957B
一种失锁检测电路和失锁检测方法
有效
申请
2022-03-29
申请公布
2022-04-29
授权
2022-08-16
预估到期
2042-03-29
| 申请号 | CN202210319733.6 |
| 申请日 | 2022-03-29 |
| 申请公布号 | CN114421957A |
| 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 授权公布号 | CN114421957B |
| 授权公告日 | 2022-08-16 |
| 分类号 | H03L7/091;H03L7/093;H03L7/18 |
| 分类 | 基本电子电路; |
| 申请人名称 | 长芯盛(武汉)科技有限公司 |
| 申请人地址 | 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区光谷三路196号长飞科技园(二期)201号综合厂房3-4层 |
专利法律状态
2022-08-16
授权
状态信息
授权
2022-04-29
公布
状态信息
公布
摘要
本发明涉及一种失锁检测电路,所述失锁检测电路包括模拟检测电路,用于在同一采样时钟信号的不同相位、具有不同大小的采样阈值的多个采样点处,对输入信号进行采样,以获得多个采样结果;以及逻辑判别电路,其接收所述多个采样结果,并根据所述多个采样结果之间的逻辑关系,判断所述采样时钟信号与所述输入信号是否处于失锁状态。通过本发明的技术方案,可以有效解决目前失锁状态检测的方式复杂、不准确的问题。另外,本发明还提供了一种失锁检测方法。


