本实用新型公开了一种基于半导体制冷组件生产用检测装置，包括工作台、进料尺寸检测结构和制冷效率检测结构；工作台：其下表面四角对称设有支撑腿，工作台的上表面中心处设有检测箱，检测箱的底端和右侧面底端中部均为开口结构，工作台的上表面右侧中心处设有固定板，固定板的右侧面设有电机，工作台的上表面右侧前端设有水泵，水泵的出水口通过输水管一与检测箱上表面的进水口相连；进料尺寸检测结构：分别设置于工作台的上表面和固定板的左侧面，进料尺寸检测结构的上表面卡接有半导体制冷片，该基于半导体制冷组件生产用检测装置，检测半导体制冷片的尺寸，便于对半导体制冷片进行制冷效率检测。