品牌网
公司信息商标信息专利信息
授权公布号:CN111986195B
一种外观缺陷检测方法及系统
有效
申请
2020-09-07
申请公布
2020-11-24
授权
2024-02-20
预估到期
2040-09-07
申请号 CN202010930373.4
申请日 2020-09-07
申请公布号 CN111986195A
申请公布日 2020-11-24
授权公布号 CN111986195B
授权公告日 2024-02-20
分类号 G06T7/00;G06T7/12;G06T7/62;G06N3/08
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 凌云光技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

专利法律状态

2024-02-20 授权
状态信息
授权
2020-12-11 实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20200907
2020-12-11 著录事项变更
状态信息
著录事项变更;IPC(主分类):G06T7/00;变更事项:申请人;变更前:北京凌云光技术集团有限责任公司;变更后:凌云光技术股份有限公司;变更事项:地址;变更前:100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室;变更后:100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
2020-11-24 公布
状态信息
公布

摘要

本申请公开了一种外观缺陷检测方法,包括:对于所有待检测对象,采用预定的筛选策略进行外观缺陷筛选,筛选出确定没有缺陷的待检测对象和疑似具有缺陷的待检测对象;对于所述疑似具有缺陷的待检测对象,采用深度学习技术进行识别,区分出具有真缺陷的待检测对象和具有假缺陷的待检测对象;对于所述具有真缺陷的待检测对象,区分缺陷类别后予以输出。进一步的,采用去帽二值化方法进行外观缺陷筛选,或者采用相移二值化方法进行外观缺陷筛选。该检测方法的设计能够对于缺陷的成像要求不高,并且不要求缺陷明显,无须定制光源,因而能够有效避免误检及漏检的发生。此外,本申请还公开了一种外观缺陷检测系统。