本申请涉及一种测厚仪，其包括固定设置的支架，其特征在于：所述支架上安装有测厚光栅尺和导轨，所述导轨上滑动连接滑块，所述滑块上固定安装有光栅尺移动表头，滑块上固定安装的测厚杆接触待测厚的物料并与所述测厚光栅尺联用测出物料的厚度。本申请还涉及一种胶片厚度控制系统。本方案直接测量胶片的厚度，并进行显示和实时调节，大大提高了生产效率和加工精度。