本实用新型涉及一种测试光源，用于光学性能测试，包括机箱、卤素灯珠及单芯光纤，所述机箱内设有容置腔，所述卤素灯珠设置于容置腔内，所述机箱设有与容置腔连通的导光孔，单芯光纤的一端为光源引入端，单芯光纤的另一端为光源投射端，所述单芯光纤穿设于导光孔内，所述光源引入端与卤素灯珠对应，所述光源投射端用于向测试器件投射光斑。通过将光源引入端对应设置于靠近卤素灯珠的位置来增大进入光源引入端所处位置的光照强度，如此在投射光斑的强度一定时，可以通过靠近设置光源引入端的方式来减小卤素灯珠的功率，进而降低灯珠的发热效率，减缓测试光源的老化速度。