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公司信息商标信息专利信息
授权公布号:CN305580180S
客观评价测试体
有效
申请
2019-06-27
申请公布
1970-01-01
授权
2020-01-31
预估到期
2029-06-27
申请号 CN201930337857.6
申请日 2019-06-27
授权公布号 CN305580180S
授权公告日 2020-01-31
分类号 10-05(12)
申请人名称 北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 北京市海淀区首体南路1号

专利法律状态

2020-01-31 授权
状态信息
授权

摘要

1.本外观设计产品的名称:客观评价测试体。2.本外观设计产品的用途:本外观设计适用于X射线安全检查设备图像性能的客观评价使用。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。