授权公布号:CN305515175S
定期检测测试体
有效
申请
2019-06-27
申请公布
1970-01-01
授权
2019-12-27
预估到期
2029-06-27
| 申请号 | CN201930337876.9 |
| 申请日 | 2019-06-27 |
| 授权公布号 | CN305515175S |
| 授权公告日 | 2019-12-27 |
| 分类号 | 10-05(12) |
| 申请人名称 | 北京中盾安民分析技术有限公司 |
| 申请人地址 | 北京市海淀区首体南路1号 |
专利法律状态
2019-12-27
授权
状态信息
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称:定期检测测试体。2.本外观设计产品的用途:本外观设计适用于X射线安全检查设备图像性能的定期检测使用。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。


