本发明公开了一种半导体存储器老化测试的Workload测试文件编译方法、测试方法及系统，其中的方法首先输入Workload测试文件；然后对输入的Workload测试文件进行格式识别，其中，Workload测试文件具有多个命令行，命令行用以表示对指定范围内LBA的操作命令，其中LBA表示逻辑块地址；再根据格式识别结果，对输入的Workload测试文件包含的命令行进行解析，生成与命令行对应的二进制数据，所有命令行对应的二进制数据构成Workload测试文件的编译结果。本发明的方法可以提高对Workload测试文件执行效率以及测试效率，以及解决Workload测试文件命令行格式多样性、正确性问题。