授权公布号:CN113269762B
屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质
有效
申请
2021-05-31
申请公布
2021-08-17
授权
2024-01-09
预估到期
2041-05-31
| 申请号 | CN202110604865.9 |
| 申请日 | 2021-05-31 |
| 申请公布号 | CN113269762A |
| 申请公布日 | 2021-08-17 |
| 授权公布号 | CN113269762B |
| 授权公告日 | 2024-01-09 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/80;G06T7/11 |
| 分类 | 计算;推算;计数; |
| 申请人名称 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 申请人地址 | 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号 |
专利法律状态
2024-01-09
授权
状态信息
授权
2021-09-03
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20210531
2021-08-17
公布
状态信息
公布
摘要
本发明提供一种屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质,所述方法包括步骤:获取2D相机所拍摄的屏幕图像;于屏幕图像中检测识别异常区域,并建立坐标系,计算异常区域在屏幕图像中的位置坐标信息;移动屏幕,将坐标系坐标原点与3D光场相机视野中心进行标定;根据异常区域位置坐标信息计算移动补偿值,移动屏幕,将异常区域置于3D光场相机视野中心;获取3D光场相机所拍摄的3D屏幕图像,计算异常区域的高度位置信息,判断异常区域所属不良类型,并判断屏幕是否合格。利用多次递进移动,实现了屏幕内异常点在2D相机工位和3D相机工位之间的高精度位置转换,降低了移动精度误差的影响。


