授权公布号:CN112085752B
一种图像的处理方法、装置、设备及介质
有效
申请
2020-08-20
申请公布
2020-12-15
授权
2024-01-30
预估到期
2040-08-20
| 申请号 | CN202010841629.4 |
| 申请日 | 2020-08-20 |
| 申请公布号 | CN112085752A |
| 申请公布日 | 2020-12-15 |
| 授权公布号 | CN112085752B |
| 授权公告日 | 2024-01-30 |
| 分类号 | G06T7/13;G06T7/70 |
| 分类 | 计算;推算;计数; |
| 申请人名称 | 浙江华睿科技股份有限公司 |
| 申请人地址 | 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10 |
专利法律状态
2024-01-30
授权
状态信息
授权
2021-08-06
著录事项变更
状态信息
著录事项变更;IPC(主分类):G06T7/13;变更事项:申请人;变更前:浙江华睿科技有限公司;变更后:浙江华睿科技股份有限公司;变更事项:地址;变更前:310053 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10;变更后:310053 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10
2021-01-01
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/13;申请日:20200820
2020-12-15
公布
状态信息
公布
摘要
本发明公开了一种图像的处理方法、装置、设备及介质,用于解决现有获取条纹中心像素点的方法,未考虑杂光干扰,导致抗杂光干扰能力差,确定的条纹中心像素点不准确的问题。由于本发明实施例中在根据激光条纹灰度图像中位于激光条纹上的每素点的坐标值以及对应的法线方向,确定了该像素点对应的条纹中心像素点后,确定包含该条纹中心像素点的第一窗口,若该第一窗口内包含的其他条纹中心像素点的数量大于设定的数量阈值,才确定该条纹中心像素点为目标条纹中心像素点,实现对条纹中心像素点的筛选,减少了杂光对获取的目标条纹中心像素点的干扰,提高了获取的目标条纹中心像素点的准确度。


