一种相位法激光测距光学系统

授权公布号：CN217034255U

一种相位法激光测距光学系统

有效

申请

2022-03-17

申请公布

1970-01-01

授权

2022-07-22

预估到期

2032-03-17

申请号	CN202220580686.6
申请日	2022-03-17
授权公布号	CN217034255U
授权公告日	2022-07-22
分类号	G01S17/36;G01S7/481
分类	测量；测试;
申请人名称	天津杰泰高科传感技术有限公司
申请人地址	天津市西青区张家窝镇广源路6号

专利法律状态

2024-01-26 专利权质押登记、变更及注销

状态信息

专利权质押登记；IPC(主分类):G01S 17/36；专利号:ZL2022205806866；登记号:Y2024980000689；登记日:20240108；出质人:天津杰泰高科传感技术有限公司；质权人:天津市鹏翔科技有限公司；实用新型名称:一种相位法激光测距光学系统；申请日:20220317；授权公告日:20220722

2022-07-22 授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型涉及激光测距光学系统，尤其涉及一种相位法激光测距光学系统。一种相位法激光测距光学系统，包括发射单元、本振信号接收单元、主振信号接收单元和反光板。本实用新型的有益效果是：利用光纤代替分光镜，通过光纤将二极管发出的一部分光传导致本振信号点，对比采用分光镜提供本振信号的方式有噪声小、抗干扰能力强、抗冲击能力强等优点，提高相位法激光测距系统的精度。