授权公布号:CN104237822B
用于电子磁力计传感器的补偿磁干扰
有效
申请
2013-06-20
申请公布
2014-12-24
授权
2018-10-19
预估到期
2033-06-20
| 申请号 | CN201310253435.2 |
| 申请日 | 2013-06-20 |
| 申请公布号 | CN104237822A |
| 申请公布日 | 2014-12-24 |
| 授权公布号 | CN104237822B |
| 授权公告日 | 2018-10-19 |
| 分类号 | G01R35/00;G01R33/02;G01C21/08 |
| 分类 | 测量;测试; |
| 申请人名称 | 意法半导体(中国)投资有限公司 |
| 申请人地址 | 上海市东川路555号丁楼4层 |
专利法律状态
2018-10-19
授权
状态信息
授权
2015-01-14
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 35/00申请日:20130620
2014-12-24
公布
状态信息
公布
摘要
本发明描述了用于在磁性感测设备中补偿硬铁和软铁磁性干扰的装置和方法。可以使用由多个磁场测量产生的椭圆体表面来模拟硬铁干扰和软铁干扰。椭圆体与参照系之间的位移对应于硬铁或永磁场干扰。椭圆体的形状和定向对应于软铁磁场干扰。可以分析椭圆体表面以获得用于消除硬铁和软铁干扰的磁场补偿值。


