授权公布号:CN113820583B
一种USBOTG测试方法
有效
申请
2020-06-19
申请公布
2021-12-21
授权
2024-02-27
预估到期
2040-06-19
| 申请号 | CN202010564598.2 |
| 申请日 | 2020-06-19 |
| 申请公布号 | CN113820583A |
| 申请公布日 | 2021-12-21 |
| 授权公布号 | CN113820583B |
| 授权公告日 | 2024-02-27 |
| 分类号 | G01R31/28;H01L21/66 |
| 分类 | 测量;测试; |
| 申请人名称 | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 申请人地址 | 北京市海淀区西北旺东路10号院东区14号楼一层A101-A113 |
专利法律状态
2024-02-27
授权
状态信息
授权
2022-01-07
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G01R31/28;申请日:20200619
2021-12-21
公布
状态信息
公布
摘要
本发明提供一种USB OTG测试方法,所述方法包括以下步骤:S1,将一个GPIO作为一个开关并配成输出口,连接到待测芯片的两根数据线与两个USB连接器之间;S2,所述两个USB连接器分别连接PC机和U盘;S3,通过程序控制由GPIO输出高低电平来决定开关打开的方向;S4,通过GPIO的电平变化,所述开关打到第一位置连接到连个USB连接器中连接PC机的一个;或是打到第二位置连接到两个USB连接器中连接U盘的另一个,完成USB OTG测试。满足了芯片自动化测试的要求,方法简单操作方便。


